依市場應用與核心製程需求,快速對應適合的鍵合 / 解鍵合設備平台
本頁選型矩陣可作為初步設備評估參考;實際設備配置仍需依晶圓尺寸、載板材料、膠材系統、製程溫度、解鍵合條件與產能需求進一步確認。
AI / HBM / CoWoS
對應 DRAM 晶圓薄化、TSV 堆疊、先進封裝背面製程與高密度整合需求,可依製程條件評估臨時鍵合、雷射解鍵合與永久 / 混合鍵合平台。
InP / GaN / GaAs
對應化合物半導體高硬脆材料薄化、低應力鍵合與熱滑移分離需求,適合依材料特性與晶圓尺寸進行設備配置。
SiC / Power Device
對應 SiC、IGBT、MOSFET 與功率元件背面製程,可依 UV 膠材、晶圓厚度與撕膜 / 雷射解鍵合需求選擇設備平台。
3D IC / SiP / CIS / MEMS
對應晶圓級堆疊、真空封裝、永久鍵合、混合鍵合與異質整合應用,重點在對位、表面狀態與鍵合穩定性。
FOPLP / CoPoS
對應 310 / 510 平台、大尺寸載板鍵合、翹曲控制、雷射解鍵合、電漿與濕式清洗後處理需求。
對應 DRAM 晶圓薄化、TSV 堆疊、先進封裝背面製程與高密度整合需求,可依製程條件評估臨時鍵合、雷射解鍵合與永久 / 混合鍵合平台。
InP / GaN / GaAs
對應化合物半導體高硬脆材料薄化、低應力鍵合與熱滑移分離需求,適合依材料特性與晶圓尺寸進行設備配置。
SiC / Power Device
對應 SiC、IGBT、MOSFET 與功率元件背面製程,可依 UV 膠材、晶圓厚度與撕膜 / 雷射解鍵合需求選擇設備平台。
3D IC / SiP / CIS / MEMS
對應晶圓級堆疊、真空封裝、永久鍵合、混合鍵合與異質整合應用,重點在對位、表面狀態與鍵合穩定性。
FOPLP / CoPoS
對應 310 / 510 平台、大尺寸載板鍵合、翹曲控制、雷射解鍵合、電漿與濕式清洗後處理需求。
產品選型需依晶圓尺寸、材料特性、膠材系統、載板條件、解鍵合方式與產能需求進一步確認。
歡迎聯絡時轉科技,取得適合您製程條件的鍵合 / 解鍵合設備配置建議。
歡迎聯絡時轉科技,取得適合您製程條件的鍵合 / 解鍵合設備配置建議。